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薄膜測厚儀

簡(jian)要描述：薄膜(mo)測厚儀采用光(guang)譜干涉原理進行測量，具(ju)有非接觸、無破壞、快速等特點，可(ke)在真空(kong)環境使用；可(ke)與大(da)行程工件臺(tai)配合，實現大(da)面(mian)積膜(mo)厚自動測量。

  • 產(chan)品型號(hao)：
  • 廠商性質：生產廠家
  • 更(geng)新時間：2024-04-09
  • 訪(fang)  問  量：1614

詳細介紹

品牌其他品牌價格區間面議
產地類別進口應用領域醫療衛生,環保,化工,電子
產品名稱：薄膜(mo)測厚儀
主要技術(shu)指標：
   測量范圍（VIS）：15nm—100μm
   測量重復性(xing)（RMS）：0.086nm
   測(ce)量精(jing)度(du)（與橢偏儀對(dui)比）：0.25nm
   測(ce)量層(ceng)數：大于(yu)3層(ceng)
   使用光源(yuan)：鹵素燈；
入射角度：90°
   測試材(cai)料：透明或(huo)半透明薄膜材(cai)料；
   光斑尺(chi)寸：20μm—3mm（可選）
   測量時(shi)間：100ms—4ms；
   通信接口：USB2.0
產品特點：
采(cai)用(yong)光譜干涉(she)原理進行(xing)測量，具有非接觸、無(wu)破壞、快速等特點；
可在(zai)真空環境使用；可與(yu)大(da)行程工(gong)件臺配合，實現大(da)面積膜厚自(zi)動(dong)測量。

薄膜測厚儀測試數據：

薄(bo)膜測厚儀設備(bei)組(zu)成：
測試主機、光纖、校正件、測量頭、夾持裝置、設備(bei)箱(xiang)、手提電腦。
 

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